探針臺
Probe Stations
低維材料
2D Material Transfer Platform
光電測試系統
Optoelectronic test system
光學平臺與光學面包板
Optical platform and breadboard
光波導耦合系統
Optical waveguide coupling system
光源
Light Source
OCT 成像系統
OCT Imaging System
光電探測與分析
Beam Measurement and Control
顯微觀察
Microscopic observation
運動控制
Motion Control
教學/科研光路系統
Scientific optical path system
其他設備及軟件
Other equipment and software
0
購物車
工作距離長；
用于明場檢測；
高質量平場復消色差設計；
安裝螺紋：M26 x 0.706；
波長范圍 ：436nm - 656nm；
遠場校正、平場復消色差的設計；
長工作距離、明場觀察；
支持透過3.5 mm蓋玻片來觀察；
適用于亮場與暗場顯微鏡應用；
適用于表面劃痕、凹凸的觀察；
超長工作距離，數值孔徑高；
平場復消色差設計；
安裝螺紋：M40×0.705；
專為紫外、可見光及近紅外光譜區域的明場成像設計；
M Plan NIR HR鏡頭提高了分辨率；
M Plan UV鏡頭在Nd:YAG諧波處的266nm和500nm進行優化；
在Nd:YAG 激光譜線上的出色表現；
專屬微信 請掃描二維碼添加
