探針臺(tái)
Probe Stations
譜量光電 精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)(金相款)能夠清晰觀測(cè)到被測(cè)元件的微小結(jié)構(gòu)和細(xì)節(jié),確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。具有高分辨率觀測(cè)、高精度測(cè)試等特點(diǎn);預(yù)留濾光及偏光插槽,帶光闌調(diào)節(jié)通光量及視野大小,支持多組物鏡切換使用。在半導(dǎo)體器件的研發(fā)和測(cè)試中,更利于觀察1μm以上電極/PAD使用,大大的提高了測(cè)試結(jié)果的穩(wěn)定性。
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樣品臺(tái)行程
XY軸110mm,Z軸10mm,360°粗調(diào),±5°精調(diào) |
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放大倍數(shù)
200~1000倍 |
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漏電精度
100fA(屏蔽箱內(nèi)) |
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線纜規(guī)格
三同軸接口/同軸接口BNC、鱷魚夾、香蕉插頭(可選配) |
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物鏡
95mm大視場(chǎng)平場(chǎng)復(fù)消色差長(zhǎng)焦物鏡 |



PLCTS 精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)(金相款)主要是對(duì)精密型基礎(chǔ)測(cè)試探針臺(tái)的顯微鏡成像進(jìn)行升級(jí)。標(biāo)配5X,10X,20X,50X五孔物鏡轉(zhuǎn)盤,選用95mm大視場(chǎng)平場(chǎng)復(fù)消色差長(zhǎng)焦物鏡,最大放大倍率~1000倍。如需更換探針座款式(1μm、0.7μm等)及線纜規(guī)格(同軸線纜)可聯(lián)系客服。