探針臺
Probe Stations
譜量光電 CX40M金相顯微鏡采用無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)和落射式科勒照明系統(tǒng),同時在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。帶視場光闌、孔徑光闌中心可調(diào)和斜照明裝置,含帶濾色片插槽與偏光裝置插槽。透反兩用機架,低手位粗微同軸調(diào)焦機構(gòu),粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松緊裝置和機械上限位裝置。帶平臺位置上下調(diào)節(jié)機構(gòu),最大樣品高度28mm。載物臺采用雙層機械移動平臺,低手位X、Y方向同軸調(diào)節(jié);平臺尺寸175mm×145mm,移動范圍:76mm×42mm。配備長工作距離物鏡:5X、10X、20X、50X物鏡可選,滿足不同放大倍數(shù)需求,適應(yīng)多種樣品觀察。
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目鏡
PL10X/22mm |
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物鏡
長工作距離平場消色差金相物鏡(5X、10X、20X、50X) |
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轉(zhuǎn)換器
內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器 |
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載物臺
玻璃平臺 |
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載物臺移動范圍
76mm*42mm |
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觀察筒
30° 傾斜, 倒像,無限遠鉸鏈式三目觀察筒 |
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攝像裝置
0.5X攝像接筒,C 型接口 |



PLCTS CX40M金相顯微鏡采用無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng)和落射式科勒照明系統(tǒng),同時在落射照明系統(tǒng)中設(shè)計防反射結(jié)構(gòu),有效防止反射光干擾成像光線,從而使成像更清晰、視場襯度更好。