探針臺
Probe Stations
譜量光電 光致發光測試系統是對發光材料的發光特性,發光效率等光學性能進行測試的系統。系統搭配的光譜儀信噪比高、雜散光低,動態范圍大。配置樣品夾具/比色皿,適合不同波段和強度的激發光和發射光測量。系統主要由積分球、光纖光譜儀、多模光纖、激發光源、樣品夾具/比色皿、積分球支架等組成。用于材料(液體、粉末、薄膜)熒光量子效率的測量,測試系統經過可溯源的光源進行定標,能夠進行準確的絕對量子產率、色度,同時可以實現光致發光譜的測量和記錄。測量所需操作只要在軟件界面上就可完成,實現自動化測量。系統結構簡單,操作方便。
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積分球光譜范圍
200-2500nm |
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光譜儀光譜范圍
200-1100nm |
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激發光源
375nm/405nm/532nm等(可定制其他) |
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光學接口
SMA905 |
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積分球內膽材料
PTFE |
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光譜儀探測器類型
濱松制冷型面陣CCD傳感器 |
測試條件:
1、激發光波長:375nm,型號:FLS375-10
2、光譜儀工作波長:200-1100nm,型號:Ficr
3、樣品類型:薄膜

測試條件:
1、激發光波長:375nm,型號:FLS375-10
2、光譜儀工作波長:200-1100nm,型號:Ficr
3、樣品類型:薄膜

PLCTS 光致發光測試系統主要由積分球、光纖光譜儀、多模光纖、激發光源、樣品夾具/比色皿、積分球支架等組成。光纖光譜儀采用濱松制冷型面陣CCD傳感器,具有高靈敏度、低噪聲、高信噪比低溫漂等特點。通過制冷技術抑制探測器熱噪聲,光譜儀的暗電流顯著降低,信噪比大幅提升,同時能夠檢測到更微弱的光信號。工作波長為200nm-1100nm,積分球采用進口的高漫反射材料PTFE高溫燒制而成,反射率高達99%,光學接口選用標準的SMA905,具有良好的朗伯特性。激發光源配置的我司光纖耦合LED光源典型波長375nm/405nm/532nm等,可根據客戶需求定制話波長選擇。