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• 用于測量發光器件（如OLED，QLED，PeLED等）；
• 可定制樣品夾具；
• 能夠進行測量亮度、色坐標、輻射通量、V-I 特性、EQE等；
• 系統由積分球、光纖光譜儀、多模光纖、Keithley數字源表、樣品夾具、積分球支架等組成；

     譜量光電 電致發光測試系統是一種用于測量發光器件（如OLED，QLED，PeLED等）光電性能的高精度設備。測試系統經過可溯源的光源進行定標，能夠進行測量亮度、色坐標、輻射通量、V-I 特性、EQE等數據。整體系統體積小巧、操作簡單、測試高效等特性。系統主要由積分球、光纖光譜儀、多模光纖、Keithley數字源表、樣品夾具、積分球支架等組成。積分球采用進口的高漫反射材料PTFE高溫燒制而成,反射率高達99%，光譜范圍200-2500nm都具有良好的朗伯特性。光纖光譜儀采用濱松制冷型面陣CCD傳感器，具有高靈敏度、低噪聲、高信噪比低溫漂等特點。通過制冷技術抑制探測器熱噪聲，光譜儀的暗電流顯著降低，信噪比大幅提升，同時能夠檢測到更微弱的光信號。